Metorex C100型X射線熒光光譜法總硫分析儀基于成熟的元素分析技術(shù)(EDXRF)在線檢測柴油和汽油中的超低硫含量。成熟的能量色散X射線熒光技術(shù)(EDXRF)使得C100型總硫分析儀的檢測下限為0.5ppm,檢測范圍從0到10%。簡捷而成熟的測量技術(shù)，無需對樣品進(jìn)行氣化，無需分光晶體及復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置，使得用戶通過使用*簡單而精準(zhǔn)的儀器，得到*的準(zhǔn)確度和超低的維護(hù)量及操作成本。
分析方法：ASTM-D4294 (能量色散X射線熒光光譜法)
ASTM-D7212 (低硫EDXRF分析法，使用低背景比例計(jì)數(shù)器)
Metorex C100 X射線熒光光譜法總硫分析儀是世界上*早發(fā)明在線X射線熒光光譜法總硫分析儀的制造廠-Metorex公司的第四代產(chǎn)品。C100型X射線熒光光譜法總硫分析儀由控制單元（PES）和分析單元（MHA）兩部分組成。樣品流經(jīng)位于分析單元的流通池，樣品中的硫原子受到X射線照射發(fā)出二次光被探測器所檢測，二次光的強(qiáng)度與樣品中的硫含量成正比。
在整個(gè)分析過程中，被測樣品既不會(huì)與任何分析部件接觸，也不會(huì)發(fā)生任何轉(zhuǎn)換，因而操作簡單，維護(hù)量低。同時(shí)在分析過程中不需要任何輔助的燃燒氣體，因此分析過程更安全，操作成本更低。
應(yīng)用
石油精煉工業(yè)領(lǐng)域：燃油和原油中總硫的測定，或煉油催化劑中雜質(zhì)和微量金屬的測定。
化學(xué)工業(yè)領(lǐng)域：石化工藝中催化劑的測定，例如測定催化劑中的Co、Mn、Br、V和K等元素。
電鍍工業(yè)領(lǐng)域：測定電鍍槽中的金屬元素。
污水處理工業(yè)領(lǐng)域：測定污水中的痕量金屬，例如Pb、Mo和Cu。
特殊應(yīng)用探頭
Metorex系列探頭在許多應(yīng)用場合表現(xiàn)出****的分析性能，各種針對特殊應(yīng)用設(shè)計(jì)的探頭可以使其性能發(fā)揮趨于**。Metorex的探頭不僅具有的分辨率和的信噪比，還具有很長的使用壽命。當(dāng)一個(gè)專用探頭和理想的X射線管采樣系統(tǒng)**配合時(shí)，就可以實(shí)現(xiàn)*低的濃度下限和**的精度。
早期的EDXRF分析儀，檢測器背景噪聲是檢測輕元素濃度的限制因素。Metorex技術(shù)的制造的一款新的革命性的探測器，通過檢測和拒絕不*電荷收集，來抑制背景噪聲。 這把應(yīng)用在檢測輕元素(硅Si，磷P，硫S，氯Cl，鉀K，鈣Ca)的靈敏度提高到了一個(gè)新水平。
全新高速計(jì)數(shù)電子裝置
C100的脈沖處理電子裝置還包含全新的高速正比計(jì)數(shù)電路，這使得C100在一個(gè)相當(dāng)高的速度下(高達(dá)50,000 cps)進(jìn)行測量，相對于傳統(tǒng)的EDXRF儀器來說，其測量結(jié)果的精準(zhǔn)度得到進(jìn)一步的提高，高速電子計(jì)數(shù)器和專用探頭的組合為EDXRF測量技術(shù)帶來新的突破。比如C100測量柴油中硫的標(biāo)準(zhǔn)偏差為0.35 ppm。
技術(shù)特點(diǎn)
使用EDXRF技術(shù)，C100可以測量從硅(原子數(shù)14)到鈾(原子數(shù)92)之間的任何元素，濃度范圍從次ppm水平到%水平。
檢測限：0.5 ppm
長期測量的穩(wěn)定性，通過內(nèi)標(biāo)消除檢測器和電子漂移。
直接測量法，無需高溫轉(zhuǎn)換。
樣品池窗口和第二個(gè)保護(hù)窗保護(hù)檢測器免受樣品污染。
特殊涂層的測量池窗口不易被污染，決定了它可以長時(shí)間操作而無需維護(hù)
配置檢漏儀，如果遇到檢測窗破裂，可切斷安全閥門。
檢測源是一個(gè)X射線管，意味著切斷電源時(shí)，將停止輻射。
測量池自動(dòng)清洗/校準(zhǔn)
可選加熱測量池，可將粘度高達(dá)100 cSt的高粘樣品加熱至80℃。
寬量程測量，測量范圍從ppm到%水平
測量過程不受樣品密度和C/H比變化的影響
友好的用戶界面
作為世界上*早開發(fā)和應(yīng)用在線X射線熒光分析技術(shù)的廠家，Metorex 同時(shí)可以提供元素分析儀并以超過450套的業(yè)績而深受廣大用戶的喜愛。
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