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通用型原子力顯微鏡 AFM5100N

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品說明： AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。 1. 簡便的懸臂安裝通常的懸臂是非常渺小而且很難操作...

詳細(xì)介紹

AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。 1. 簡便的懸臂安裝通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。 2. 不用調(diào)整激光光斑的自檢測方式激光檢測方式的探針需要調(diào)節(jié)激光光斑的位置，操作復(fù)雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無

AFM5100N除了激光檢測方式之外，xin的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。
1. 簡便的懸臂安裝
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的AFM探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。

2. 不用調(diào)整激光光斑的自檢測方式
激光檢測方式的探針需要調(diào)節(jié)激光光斑的位置，操作復(fù)雜，而采用自檢測方式的「自檢測懸臂」無需調(diào)節(jié)激光光斑。

3. 懸臂定位
懸臂的機(jī)械結(jié)構(gòu)，能夠以俯視方式直接觀察懸臂的位置，從而輕松調(diào)整樣品的測量的位置。除此之外，更加尖銳的探針提高了分辨率。

4. 方便的操作導(dǎo)航系統(tǒng)

通過流程圖形式的導(dǎo)航系統(tǒng)，任何人都可以輕松地進(jìn)行高分辨表面測量。另外，通過設(shè)定樣品的軟硬度和凹凸系數(shù)等參數(shù)，能夠簡單確定測量條件。

5. 緊湊的主機(jī)

主機(jī)上包含減震臺、隔音罩、光學(xué)顯微鏡等附件，安裝緊湊，體積小巧。

6. 擴(kuò)展功能

通過激光檢測方式，能夠擴(kuò)展各種各樣的選配功能。另外，只要插拔一根電纜就能夠切換成激光檢測方式。

技術(shù)參數(shù)

檢測方式	激光檢測方式/自檢測方式
樣品尺寸	35 mmφ、厚度10 mm（配件厚度擴(kuò)展至20 mm）
掃描范圍	100 µm/15 µmH 110 µm/6 µmH（閉環(huán)差控制）
定位顯微鏡	變焦顯微鏡金相顯微鏡（可以選配）
減震方式	落地式減震臺（可以選配）
操作畫面	搭載流程圖的操作導(dǎo)航系統(tǒng)
檢測功能	CURRENT、SSRM、SNDM、PRM、KFM PM（相位模式）（可以選配）
擴(kuò)展功能	AFM、STM、SIS、FFM、LM-FFM、VE-AFM/DFM、Adhision、CURRENT、KFM、PRM、SNDM、SSRM、EFM、MFM