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日立UH4150紫外/可見(jiàn)/近紅外分光光度計(jì)2

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹：在固體分析分光光度計(jì)專家U-4100的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的技術(shù)提高, UH4150問(wèn)世！UH4150是積分球分光光度計(jì)產(chǎn)品專家，半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究，是功能勁的分光光度系統(tǒng)。UH4150是固體、液體和渾濁樣品測(cè)試的高性能系統(tǒng)。技術(shù)特點(diǎn)；（1）切換檢測(cè)器波長(zhǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號(hào)差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等，將檢測(cè)器切換時(shí)（信號(hào)水平的差異）吸光度值的變化降到最小。（2）日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振。棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見(jiàn)的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒(méi)有大的改變。即使對(duì)于低透過(guò)率和反射率的樣品，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定。（3）平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測(cè)定。平行光束，相對(duì)于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評(píng)價(jià)和透鏡透過(guò)率的測(cè)定。（4）可提供適合不同測(cè)定目的的多種檢測(cè)器。可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球（5）采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)。改進(jìn)樣品......

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹：

在固體分析分光光度計(jì)專家U-4100的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)了進(jìn)一步的技術(shù)提高, UH4150問(wèn)世！

UH4150是積分球分光光度計(jì)產(chǎn)品專家，半導(dǎo)體、光學(xué)元件、新型材料的光譜性能研究，是功能勁的分光光度系統(tǒng)。UH4150是固體、液體和渾濁樣品測(cè)試的高性能系統(tǒng)。

技術(shù)特點(diǎn)；

（1）切換檢測(cè)器波長(zhǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生小的信號(hào)差異,即使這樣UH4150也可實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)定。

由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等，將檢測(cè)器切換時(shí)（信號(hào)水平的差異）吸光度值的變化降到最小。

（2）日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)低雜散光和低偏振。

棱鏡-光柵（P-G）系統(tǒng)與常見(jiàn)的光柵-光柵（G-G）系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒(méi)有大的改變。即使對(duì)于低透過(guò)率和反射率的樣品，UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定。

（3）平行光束可實(shí)現(xiàn)反射光和散射光的精確測(cè)定。

平行光束，相對(duì)于樣品入射角始終相同，實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定。此外，平行光束可用于擴(kuò)散率（霧度）的評(píng)價(jià)和透鏡透過(guò)率的測(cè)定。

（4）可提供適合不同測(cè)定目的的多種檢測(cè)器。

可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球

（5）采用全新人體工學(xué)設(shè)計(jì)。

改進(jìn)樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。

（6）兼容多種U-4100附件。

通用附件適用于兩種型號(hào)。U-4100型附件也可用在UH4150型由于附件可拆卸，適合更多的測(cè)定類型。

（7）比U-4100型更高的樣品通量。

UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測(cè)定，顯著縮短測(cè)定時(shí)間。

應(yīng)用領(lǐng)域：

液體、渾濁液體、固體均可適用?？蓪?shí)現(xiàn)包括粉末、玻璃、光學(xué)薄膜、膠片材料、透鏡、棱鏡、單晶片、液體電路板等各種光學(xué)、電子設(shè)備材料的吸收/透過(guò)率/反射率的無(wú)損測(cè)試。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)元件、光電設(shè)備、新型材料的光譜性能研究，獲取樣品的吸收、全透射、正透射、漫透射、全反射、正反射、漫反射等光譜數(shù)據(jù)。