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BeamAnalyzer刀口式光束分析儀

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更新時間：2023-12-23 19:00:43瀏覽次數(shù)：111次

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上海瞬渺光電技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡介

BeamAnalyzer刀口式光束分析儀

詳細(xì)介紹

主要特點：

l 12 bit A/D

l 同時高分辨率采樣所有模式

l 實時檢測光束質(zhì)量、尺寸和高斯擬合

l 實時顯示光束2D/3D圖像

l 測量光束的中心、橢圓度和功率

l Excel數(shù)據(jù)存儲，RS232或TCP/IP數(shù)據(jù)傳輸

l 可保存快照圖像

l 自動驗證分析報告

優(yōu)勢：

技術(shù)：層析成像重建2 D/3D圖像

多功能：測量光束輪廓，光束尺寸，光束形狀，位置和功率

靈活性：寬譜范圍（190nm-1990nm）

精確度：光束尺寸3um到9mm，0.1um分辨率

緊湊結(jié)構(gòu)：基于USB2.0氣箱，測量頭，軟件

主要參數(shù)：

傳感器類型		Si UV-Si IR IRE
光譜范圍	Si UV-Si IR IRE	350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm
刀片數(shù)		3（BA3頭） 7（BA7頭）
光束尺寸范圍	BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5	3µm-5mm 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm
光束寬度分辨率	>100µm <100µm	1µm 0.1µm
光束寬度精確度		±2%
功率范圍	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	10µW-1W(有衰減片) 10µW-5mW(無衰減片)
功率精確度	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	±5% ±10%
功率分辨率		0.1µW
位置精確度		±15µm
位置分辨率		1µm
飽和度	Si和UV-Si探頭	0.1W/cm²(無衰減片)，20W/cm²(NG9)
測量速率		5Hz
溫度		0℃-35℃
PC接口		USB2.0