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球差電鏡測試

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產(chǎn)品簡介

設備介紹JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63pm）,標配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式

詳細介紹

設備介紹

JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63pm）,標配了掃描透射環(huán)形明場(STEM-ABF)成像模式。對樣品在納米尺度的精細結(jié)構(gòu)和化學成份進行高水平表征檢測。用于納米科學、材料科學、生命科學等領(lǐng)域的科研項目。

儀器型號

JEM-ARM200F

技術(shù)參數(shù)

束流強度0.2nm時0.5nA 或更高
點分辨率≤0.23nm
聚光鏡球差系數(shù)可調(diào)，±5um 或更好
放大倍數(shù)TEM: 50-2,000,000倍*；STEM magnification: ≥150,000,000*
樣品室≤2 x 10-5 Pa
加速電壓80—300kV

案例展示

應用范圍

JEM-ARM200F差校正透射電鏡可用于成分，形貌，結(jié)構(gòu)分析測試。獲得樣品表面形貌，粒徑等相關(guān)信息。用于獲得明、暗場像的襯度像進行分析。直接觀察晶體樣品中輕元素的原子陣列，還可以同時獲取STEM-HAADF像，極大增強觀察、分析能力。原子像，選區(qū)電子衍射，會聚束電子衍射；對樣品在納米尺度的精細結(jié)構(gòu)和化學成份進行高水平表征檢測。

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