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納米粒度電位儀Zetasizer Pro

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品描述：ZetasizerPro采用非侵入背散射(NIBS®)技術(shù)，可在廣泛的濃度范圍內(nèi)對(duì)顆粒和分子大小進(jìn)行精準(zhǔn)測量

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品描述：

Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技術(shù)，可在廣泛的濃度范圍內(nèi)對(duì)顆粒和分子大小進(jìn)行精準(zhǔn)測量。

該系統(tǒng)還利用 M3-PALS 技術(shù)提供出色的電動(dòng)和電泳遷移率測量。增加的恒流模式可在高導(dǎo)電性介質(zhì)中測量電泳遷移率和電動(dòng)電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電荷屏蔽而出錯(cuò)的可能性。

大量可供選擇的試管適用于各種測量應(yīng)用（包括一次性、高性價(jià)比折疊毛細(xì)管樣品池），能在極低樣品量的情況下使用我們的擴(kuò)散障礙法進(jìn)行測量，不會(huì)產(chǎn)生直接樣品電極接觸。

新軟件套件 ZS Xplorer 可簡化復(fù)雜分析并實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，從而在不具備專業(yè)知識(shí)的情況下完成充滿挑戰(zhàn)的測量。其的以樣品為中心的工作流程帶來的可用性和靈活性，這意味著比以往更快速、更輕松地完成從樣品輸入到結(jié)果輸出的過程。

工作原理：

Zetasizer Pro 在一種緊湊型裝置中包含了三種技術(shù)，并且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測量。

動(dòng)態(tài)光散射法 (DLS)用于測量粒度及分子大小。 DLS 可測量作布郎運(yùn)動(dòng)顆粒的擴(kuò)散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉(zhuǎn)化為顆粒粒度與粒度分布。使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技術(shù)可在很廣泛的粒度及濃度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)很高的靈敏度。

DLS 是一種靈活性的顆粒測量方法，具有快速、準(zhǔn)確、可重復(fù)的特點(diǎn)。它只需要少量的樣品即可完成分析，并且可做到無損。這種技術(shù)不考慮材料因素，因此具有極廣泛的適用性。

電泳光散射法 (ELS)用于測量電動(dòng)電勢。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運(yùn)動(dòng)，其運(yùn)動(dòng)速度與電荷直接相關(guān) 使用型激光相干技術(shù) M3-PALS（相位分析光散射法）檢測其速率。這樣即可計(jì)算電泳遷移率，并得出樣品的電動(dòng)電勢及電動(dòng)電勢分布。

ELS 的運(yùn)用一般關(guān)系到穩(wěn)定性和配方應(yīng)用。不帶凈電荷的顆粒或分子可能會(huì)粘合在一起，可能會(huì)是系統(tǒng)遇到的一種困難（例如可能是附聚物的配方）。不帶凈正極或凈負(fù)極電荷的顆?；蚍肿訉⒏玫乇舜吮３志嚯x，從而形成穩(wěn)定的系統(tǒng)。包含這些顆?；蚍肿拥呐浞綐O易受其電荷態(tài)的影響，對(duì) pH 值、添加劑濃度和離子濃度等配方屬性的變更可能會(huì)影響產(chǎn)品穩(wěn)定性和儲(chǔ)存期。

ZS Xplorer 軟件套件

該軟件的設(shè)計(jì)非常簡單易用，即使是在復(fù)雜方法的快速構(gòu)建中也同樣如此。關(guān)于要測量的樣品、其條件以及變量的信息在運(yùn)行開始時(shí)輸入，并且 ZS Xplorer 將根據(jù)這些信息對(duì)用于該樣品的方法進(jìn)行智能優(yōu)化。由深度學(xué)習(xí)支持的數(shù)據(jù)質(zhì)量指導(dǎo)系統(tǒng)可提供關(guān)于結(jié)果的反饋，并針對(duì)如何對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行必要的改進(jìn)提出清晰的建議。

選件

MPT-3 自動(dòng)滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。

一系列一次性及可重復(fù)使用的樣品池優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量。

產(chǎn)品特點(diǎn)及優(yōu)勢：

tNIBS 光學(xué)器件可用于多用途、高靈敏度的顆粒與分子粒度測量

t動(dòng)態(tài)光散射法 (DLS) 可以測量從 0.6 nm 到 10 µm 的顆粒和分子粒度

t具有恒流模式的 M3-PALS 可用于電動(dòng)電勢和電泳遷移率測量

tZS Xplorer 軟件套件可實(shí)現(xiàn)簡單、靈活的方法設(shè)置和數(shù)據(jù)分析

t自適應(yīng)相關(guān)可在減少樣品制備的情況下更快速地執(zhí)行更多可重現(xiàn)的粒度測量

t由深度學(xué)習(xí)支持的數(shù)據(jù)質(zhì)量系統(tǒng)可以評(píng)估任何粒度數(shù)據(jù)質(zhì)量問題，并針對(duì)如何改進(jìn)結(jié)果提供清晰的建議

t帶有熒光濾波片的光學(xué)濾波片輪可測量熒光樣品，且不會(huì)損害整體系統(tǒng)靈敏度。還包括用于 DDLS 測量偏振濾波片。

產(chǎn)品參數(shù)：

顆粒粒度及分子大小
測量原理：	動(dòng)態(tài)光散射（非侵入式背散射 - NIBS）動(dòng)態(tài)光散射（13°、173°）
測量角度：	173°、13° 1
測量范圍:	直徑：0.3 nm - 10 μm 2
最小樣品容積:	12 μL
濃度范圍:	樣品濃度3： NIBS (173°)： 0.1 mg/mL 前方位角(13°)： 10 mg/mL 側(cè)角(90°)：不適用 MADLS：不適用樣品濃度? ?： 40% w/v
Zeta 電位
測量原理：	混合模式測量，相位分析光散射 (M3-PALS)
粒度范圍：	3.8 nm – 100 μm（直徑）2
最小樣品容積：	20 μL ?
濃度范圍:	10 mg/mL 3 - 40% w/v ? ?
樣品導(dǎo)電范圍:	：260 mS/cm 準(zhǔn)確性：± 10%
系統(tǒng)
檢測器：	雪崩光電二極管
溫度控制范圍：	0°C - 120°C ?
尺寸（寬, 長, 高）：	322 mm x 565 mm x 245 mm
重量:	19 kg
電源功率：	AC 100-240 V、50-60 Hz、4.0 A
能耗：	值(M) 100 W、45 W 典型值
環(huán)境條件:	+10°C 至 +35°C（+50°F 至 +95°F）35% - 80% RH（非冷凝）
界面:	USB 2.0 或以上版本