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TEM （透射電鏡）

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更新時間：2024-03-09 17:25:14瀏覽次數(shù)：215次

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青島立高檢測有限公司

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產(chǎn)品簡介

場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠家：日本電子株式會社型號：JEM-2100F技術(shù)參數(shù)：1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm；點(diǎn)分辨率：0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly場發(fā)射電子槍

詳細(xì)介紹

場發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM

廠家：日本電子株式會社

型號：JEM-2100F

技術(shù)參數(shù)：

1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm；點(diǎn)分辨率： 0.20nm；STEM分辨率：0.2nm；

2.樣品傾角：+/-40o；放大倍數(shù)：60-1000000；電子槍：Schottly 場發(fā)射電子槍。

3.高性能的TEM成像、STEM成像和納米分析；

4.配備英國Oxford X-MAX能譜儀。

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析；

2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測；