Thermo Scientific ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀提供出色的痕量分析靈敏度，打破了1納米的檢測(cè)限瓶頸。專為滿足實(shí)驗(yàn)室和制造環(huán)境中挑戰(zhàn)性的分析需求而設(shè)計(jì)，ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀的功能和靈活性可****提高各種元素分析應(yīng)用的分析量。能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 分析技術(shù)可通過簡(jiǎn)易的樣品制備，實(shí)現(xiàn)主量、次量和痕量元素分析，所分析樣品范圍**，可以是固體、顆粒、粉末、薄膜和所有形式的液體。
ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀提供元素分析的極限性能、多用途和可靠性。其緊湊的臺(tái)式設(shè)計(jì)、緊密耦合光學(xué)器件以及*的電子冷卻檢測(cè)器，讓我們能夠在從 ppm 到百分比元素濃度的**動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)獲得無以倫比的分析精確度。
性能特點(diǎn)
ARL QUANT’X EDXRF 的功能變得更加強(qiáng)大！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測(cè)器，現(xiàn)在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計(jì)數(shù)率，而且通常比 Si(Li) 檢測(cè)器薄得多。常見厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測(cè)效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達(dá)到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現(xiàn)出更好的靈敏度，檢測(cè)極限增加到原來的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計(jì)數(shù)時(shí)間還可以減少為原來的 1/4！新型 SDD1000 結(jié)合了 SDD 和 Si(Li) 檢測(cè)器的優(yōu)點(diǎn)。
*的技術(shù)
Peltier Si(Li) 冷卻檢測(cè)器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測(cè)器 (SDD)。
數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術(shù)。
高性能、多元素分析。
選配的 Thermo Scientific™ UniQuant™ 軟件可提供**的無標(biāo)樣分析。
主要特點(diǎn)
**的痕量分析靈敏度。
高測(cè)量吞吐量，適合過程控制。
*的非典型材料分析算法。
出色的樣品處理靈活性。
機(jī)械簡(jiǎn)單性和可靠性。
緊湊、占地面積小，便于運(yùn)輸，適合現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
快速、簡(jiǎn)單的安裝，**的現(xiàn)場(chǎng)定制化。
包含完整的實(shí)驗(yàn)室啟動(dòng)包。
可進(jìn)行空氣、真空和氦氣中的樣品分析。
經(jīng)過驗(yàn)證的硬件和一體化的軟件。
現(xiàn)場(chǎng)協(xié)作式方法開發(fā)。
**的技術(shù)應(yīng)用支持。
成百上千種應(yīng)用的專業(yè)知識(shí)。
大樣品室、攝像機(jī)以及各種范圍的準(zhǔn)直器。
功能強(qiáng)大、簡(jiǎn)單易用的 Thermo Scientific™ WinTrace™ 軟件
無標(biāo)樣和半無標(biāo)樣分析。
含標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本參數(shù) (FP) 和經(jīng)驗(yàn)方法。
多層厚度和成分。
無限制的元素，無限制的標(biāo)準(zhǔn)品數(shù)量。
多種激發(fā)條件，帶自動(dòng)化操作。
選配的 UniQuant *無標(biāo)樣分析
比任何其他 FP 分析更進(jìn)一步，可選的 UniQuant 程序收集從氟到鈾的所有可能元素發(fā)出的所有譜線。這種完整的樣品光譜曲線讓 UniQuant 能夠自動(dòng)校正所有可能的重疊和背景效應(yīng)。這些效應(yīng)在能量色散光譜中尤為復(fù)雜。
始終可以分析所有元素。
每份樣品的物理特性，例如面積、厚度和質(zhì)量均納入計(jì)算。
校正 X 射線管輸出的長期變化。
多種多樣的可選報(bào)告級(jí)別和格式，可以為任何類型的用戶清楚地呈現(xiàn)結(jié)果。
UniQuant 在出廠時(shí)經(jīng)過**預(yù)先校準(zhǔn)，可開箱即用。
應(yīng)用領(lǐng)域
ARL Quant’X 熒光能譜儀具有**的應(yīng)用如:ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環(huán)境污染氣溶膠的測(cè)度, 考古文物保護(hù),刑偵痕量分析,營養(yǎng)品分析,磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體的薄膜渡層厚度分析,各種油品中成分分析,納米至微米鍍層厚度測(cè)量,土壤,催化劑,礦石,原材料等.用于材料的無損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測(cè)器 從氟至鈾的多元素分析測(cè)定的濃度范圍一般可以從ppm級(jí)至99% 。
會(huì)員1.png)
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