RTS-1345型全自動四探針測試系統(tǒng)
可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試；
屏蔽測試，*消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性；
吸附測試，*消除全自動測試過程中樣品移動對測試的影響；
可不連接電腦使用進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測試并把測試結(jié)果同時顯示于顯示屏；
該儀器運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合全自動測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的，于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器.
儀器由主機(jī)、測試臺、四探針探頭、真空泵、屏蔽罩、計算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計算機(jī)控制進(jìn)行全自動測試，然后把測試數(shù)據(jù)采集到計算機(jī)中加以分析，以表格、圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結(jié)果
RTS-1345型四探針軟件測試系統(tǒng)是一個運(yùn)行在計算機(jī)上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進(jìn)行各項(xiàng)測試及獲得測試數(shù)據(jù)并對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計分析。
測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
RTS-1345型全自動四探針測試系統(tǒng)測量范圍
電阻率：0.0001～2000Ω.cm(可擴(kuò)展)；
方塊電阻：0.001～20000Ω/□(可擴(kuò)展)；
電導(dǎo)率：0.0005～10000 s/cm；
電阻：0.0001～2000Ω.cm；
可測晶片直徑Φ=200mm；
恒流源電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；極性、超量程自動顯示；
四探針探頭基本指標(biāo)
間距：1±0.01mm；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
四探針探頭應(yīng)用參數(shù)(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測量大相對誤差(用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度≤5%
測試模式連接電腦使用可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試，不連接電腦情況下可進(jìn)行單點(diǎn)、中心五點(diǎn)、邊緣五點(diǎn)測試并把測試結(jié)果同時顯示于顯示屏。
消除測試過程中影響因素屏蔽和吸附測試，*消除光線和全自動測試過程中樣品移動對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性。
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強(qiáng)光直射；
PN-30型導(dǎo)電類型鑒別儀
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