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合肥帝帕特商貿(mào)有限公司
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更新時間：2025-07-24 08:31:33瀏覽次數(shù)：17次
聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)DimensionIcon原子力顯微鏡、性能優(yōu)異的大樣品臺AFM BrukerDimensionIcon原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能強(qiáng)大，操作簡便易行
Dimension Icon 原子力顯微鏡、性能優(yōu)異的大樣品臺AFM
Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇， 其測試功能強(qiáng)大，操作簡便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求， Dimension Icon進(jìn)行了全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計，實現(xiàn)了的低漂移和低噪音水平。現(xiàn)在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準(zhǔn)確的掃描圖像。
優(yōu)異性能
探針掃描式掃描器
的傳感器設(shè)計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)開環(huán)噪聲級別的大樣品高分辨率掃描成像，熱漂移速率低于200 pm
操作簡單易用
超高效率
提供簡單、直觀的操作流程，以快速實現(xiàn)發(fā)表級數(shù)據(jù)的獲取。
優(yōu)秀的多功能性
多功能的配件選擇
適合廣泛的實驗、模式、技術(shù)和半自動測量。
特征：高性能和高分辨率
Dimension® Icon™優(yōu)秀的分辨率，與 Bruker 的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的革新，一直處于地位。該系統(tǒng)配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應(yīng)用在 90 微米掃描范圍、大樣品臺系統(tǒng)上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ 閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質(zhì)量也不會被損壞，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。配置Bruker 的PeakForce®技術(shù)，Dimension Icon可實現(xiàn)智能獲取高分辨圖像。
接觸模式獲得的云母原子圖像，掃描速度0.6Hz
表現(xiàn)：
Dimension Icon原子力顯微鏡已成為研究領(lǐng)域歡迎的原子力顯微鏡型號之一， 使用Dimension Icon發(fā)表文章的數(shù)目遠(yuǎn)比其他大樣品臺AFM要多。Dimension Icon 在原有的操作平臺上引入，展現(xiàn)出更高的性能和更快的測量速度。其軟件直觀的工作流程，使其操作過程比以往的AFM 技術(shù)更加簡便。Dimension Icon用戶無需像以前一樣，通常需要幾小時的專業(yè)參數(shù)調(diào)整，即可立即獲得高質(zhì)量的測量結(jié)果。Dimension Icon 的每個方面，從開放式針尖樣品空間，到軟件參數(shù)預(yù)設(shè)置，都經(jīng)過特殊設(shè)計以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。
Dimension Icon用戶操作界面。
靈活的AFM平臺：
Dimension Icon 展現(xiàn)出了的的性能，穩(wěn)定性和靈活性，幾乎可以實現(xiàn)以前只有在特制系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM 的強(qiáng)大功能展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。
Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平臺， 一個平臺，無限可能：
1、開放的平臺，能整合其他技術(shù)
2、開放的軟件和硬件，能輕松定制您的研究應(yīng)用 "如果它不存在， 就發(fā)明它"
3、電池、有機(jī)太陽能等研究的完整解決方案
左圖：手套箱中的AFM-拉曼聯(lián)用。右圖：光導(dǎo)AFM配件。
配件：
布魯克 AFM 探針
在我們的在線商店中查找各種 AFM 探針、探針夾和配件。我們的 AFM 專業(yè)知識內(nèi)置于每個探針中！
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