用途： GPJ-500 高倍透反射硅片檢測顯微鏡適用于對透明與不透明，或者半透明的物體進行顯微觀察。GPJ-500 高倍透反射硅片檢測顯微鏡配置落射照明與透射照明系統 、長距平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時還配有內置偏光觀察裝置。GPJ-500 高倍透反射硅片檢測顯微鏡可用于鑒別和分析各種金屬和合金材料及非金屬物質的組織結構，廣泛應用于電子、化工和儀器儀表行業(yè)觀察不透明的物質。如金屬太陽能板、多晶硅、單晶硅、太陽能硅片檢測、集成電路、電子芯片、電路板、液晶板、鍍涂層，薄膜、粉末及其它非金屬材料，對一些表面狀況進行研究分析的工作等。GPJ-500 高倍透反射硅片檢測顯微鏡系大專院校，科研機構，工廠等的理想儀器。 系統組成簡介： GPJ-500P電腦高倍硅片檢測顯微鏡 GPJ-500S數碼型高倍硅片檢測顯微鏡成像系統是通過光電轉換與計算機，數碼相機以及電視機等設備結合在一起，不僅可以在目鏡上觀察，還能在顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，還可在計算機，數碼相機上將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 性能特點： l 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡，視場大而清晰。 l 粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，微動格值:2μm。 l 帶限位鎖緊裝置 l 配置落射與透射兩套照明系統，能分別對不透明物體或透明物體進行顯微觀察 l 三目鏡筒,可自由切換正常觀察，可進行99%透光攝影 技術參數：
