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X-ray分析儀XAU-4C/4B型

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更新時間：2024-01-02 12:13:34瀏覽次數(shù)：149次

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產(chǎn)品簡介

X-ray分析儀XAU-4C/4B型質(zhì)量穩(wěn)定實行全過程質(zhì)量監(jiān)控，細致入微，檢測！價格合理高效內(nèi)部成本控制，減少了開支，讓利于客戶！交貨快捷充足的備貨，縮短了交貨期！專業(yè)定制以客戶需求為基準，各種產(chǎn)品均可按需求量身定制。

詳細介紹

XAU-4C/4B型x射線熒光測厚儀采用的光路交換裝置，讓X射線和可見光攝像同一垂直線，達到視覺與測試定位一體，且X光擴散度小；與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能，實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差，同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
的EFP算法，在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子，可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
產(chǎn)品性能優(yōu)勢：
1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm²（加長測量時間可小至0.01mm²）
2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm
3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量。
4.的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。
5.高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積25mm²探測器。
6.X射線裝置：微焦加強型射線管搭配聚焦裝置。
應(yīng)用領(lǐng)域：
電鍍層、涂鍍厚度分析，電鍍液含量分析
ROHS重金屬和鹵素分析
銅、鎳、錫、鉛、鐵、鈷等各種合金成分分析
黑色、有色金屬礦石分析
貴金屬、首飾含量分析、

一般情況下：

劃線價格：劃線的價格可能是商品的銷售指導(dǎo)價或該商品的曾經(jīng)展示過的銷售價等，并非原價，僅供參考。
未劃線價格：未劃線的價格是商品在阿里巴巴中國站上的銷售標(biāo)價，具體的成交價格根據(jù)商品參加活動，或因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以訂單結(jié)算頁價格為準。

活動預(yù)熱狀態(tài)下：

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未劃線價格：未劃線的價格可能是商品即將參加活動的活動價，僅供參考，具體活動時的成交價可能因用戶使用優(yōu)惠券等發(fā)生變化，最終以活動是訂單結(jié)算頁價格為準。