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ANTEK MultiTek氮、硫及鹵化物

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品概述： Antek MultiTek系統(tǒng)是探測固態(tài)、液態(tài)或其它材料中所含氮、硫及鹵化物的的模塊化分析系統(tǒng)。提供五種配置：定氮分析所用MultiTek N、定硫分析所用MultiTek S、氮/硫同時分析所用MultiTek N-S...

詳細介紹

產(chǎn)品概述：

Antek MultiTek系統(tǒng)是探測固態(tài)、液態(tài)或其它材料中所含氮、硫及鹵化物的的模塊化分析系統(tǒng)。提供五種配置：定氮分析所用MultiTek N、定硫分析所用MultiTek S、氮/硫同時分析所用MultiTek N-S、采用離子色譜法進行鹵化物分析的MultiTek IC，以及在一臺儀器上同時分析氮/硫或鹵化物的MultiTek N-S-IC。鹵化物分析需要增加離子色譜法（IC）系統(tǒng)。臥式MultiTek系統(tǒng)可以配置為氮、硫和鹵化物分析的任意組合，并且能夠方便地升級。
系統(tǒng)特征包括：單、雙（N-S）探測器操作可以與鹵化物分析交替進行，基于Windows XP或Vista的Antek MultiTek軟件，通過PC機控制儀器和數(shù)據(jù)處理，符合21 CFR第11部分的要求、方法及數(shù)據(jù)存儲容量規(guī)定，監(jiān)控運行參數(shù)確保儀器的性能，遠程控制/操作儀器等。
定氮及定硫分析的工作原理基于整個樣本基體的高溫氧化，燃燒氣體先通過一個薄膜干燥系統(tǒng)，以除去所有水分，然后通過氮和/或硫檢測器進行量化。
分析氮/硫校準標準樣本，以繪制校準曲線。在分析含氮/硫量未知的樣本時，MultiTek軟件將原始樣本數(shù)據(jù)與校準曲線進行比較，產(chǎn)生并報告氮/硫濃度。
MultiTek IC是一種基于燃燒的分析儀，采用高溫氧化和蒸汽制備包含鹵化物（氟[F]、氯[Cl]、溴[Br]、碘[I]）和/或硫的樣本，以進行離子色譜法分析。

一般規(guī)格：

外形尺寸
高度：51.5 cm（20.25英寸）
寬度：53.3 cm（21.0英寸）
深度：61.0 cm（24.0英寸）
重量：36.3 kg（80 lb）
電源要求
穩(wěn)定的115 VAC，50/60 Hz，1500 W或者穩(wěn)定的230 VAC，50/60 Hz，1500 W
IC分析儀：100-240 VAC，50/60 Hz，值3A
氣體要求：
干燥*氧氣：3巴（40 psig），99.75%，400～650 mL/min
干燥*氬氣：3巴（40 psig），99.99%，50～200 mL/min
* 干燥定義為含水量5 ppm
等溫區(qū)域
Pyro區(qū)域：環(huán)境溫度1100°C，增量1°C
輔助區(qū)域：提供兩個輔助區(qū)域