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英國ABI-6500電路板故障檢測儀

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產(chǎn)品簡介

英國ABI-6500電路板故障檢測儀

詳細(xì)介紹

英國ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:

	6400	6500
測試范圍	5V數(shù)字IC	多種電源數(shù)字IC
后置驅(qū)動(dòng)能力	400mA (MAX)	600mA (MAX)
隔離信號通道	4組信號	8組信號(支持較大驅(qū)動(dòng)電流)
測量電壓范圍	+10V~ -10V	+20V~ -20V

英國ABI-6500電路板故障檢測儀主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試
64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測試
短路追蹤測試(低電阻測試)
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號查詢
程控電源供電

測試準(zhǔn)確-源自的測試技術(shù)

同一器件同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.
圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.
整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號,快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.
V-I曲線測試功能:可針對元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對稱電壓掃描信號,正負(fù)電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 限度地保證測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號可達(dá)幾十種.

英國ABI-6500電路板故障檢測儀產(chǎn)品特征:

中英文測試軟件,USB接口.
數(shù)字測試通道:64路(可擴(kuò)充到256通道).
模擬測試通道64路(可擴(kuò)充到256通道).
1路v-i探棒測試隔離通道:4路.總線競爭信號隔離功能:用于解除總線競爭,確保正確測試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373,74LS245,等),可提供4路總線競爭隔離信號,6500可提供8路隔離信號.
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測試;測試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測試庫,可以快速擴(kuò)充測試庫配有離線測試盒,快速測試批量元器件.離線測試和在線測試功能一致.
IC型號識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號識(shí)別測試.
讀寫存儲(chǔ)器功能測試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測試。
數(shù)字集成電路測試中集電極開路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測試具有單通道探筆測試功能，方便分立器件的V-I曲線測試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測試。

數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格：

數(shù)字集成電路測試參數(shù)規(guī)格
測試通道數(shù):	64通道可擴(kuò)展到256通道/6500可擴(kuò)充2048通道
總線隔離信號通道數(shù):	4通道or 8通道
實(shí)時(shí)比對功能:	需有二個(gè)64通道, 或128通道
輸出驅(qū)動(dòng)電壓	TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn)
輸出驅(qū)動(dòng)電流:	電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分
	一般H-L 80mA @ 0.6V
	一般 L-H 200mA @ 2V
	Max. 400mA
驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比:	>100V/μs
電壓范圍:	+/-10V
輸入阻抗:	10k
邏輯形態(tài):	三態(tài)或開集極開路(內(nèi)定或由程序設(shè)定)
驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài):	Low,high,三態(tài)(tri-state)
過電壓保護(hù)范圍:	<0.5V,>5.5V
最長測試時(shí)間:	根據(jù)被測元器件而定
測試方式:	在線及離線測試(需外接離線測試盒)
測試功能及參數(shù)	參數(shù)主要區(qū)別
集成電路功能測試	根據(jù)元件原理和真值表進(jìn)行功能測試
元器件連接特性測試	短路狀態(tài)偵測
	懸浮(浮接)狀態(tài)偵測
	開路狀態(tài)偵測
	連接狀態(tài)偵測:6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍(-10~+10v),模擬仿真測試范圍更加廣泛.
電壓測量	最小解析10mV范圍+/-10V
	具邏輯狀態(tài)偵測
VI曲線測試:	測試通道數(shù)64 256(擴(kuò)展)
	電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V(可自行設(shè)定),可以設(shè)置非對稱電壓掃描
	測試電流 1mA
曲線拐點(diǎn)系數(shù):	管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對于判定溫漂的故障元件非常有助

電源供給規(guī)格參數(shù)：

自動(dòng)供給電源輸出:	1 x 5V @ 5A 固定式
	(2x5V@5A固定式for128信道)
過電壓保護(hù):	7V
過電流保護(hù):	7A
測試模式
單次(Single):	單次測試
循環(huán)(Loop):	反復(fù)測試,或條件式循環(huán)測試(PASS或FAIL)
自動(dòng)掃描測試:	可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值
邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù)
最小調(diào)整解析:	100mV
低信號位準(zhǔn):	TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V
轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn):	TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V
高信號位準(zhǔn):	TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V
掃描低邏輯范圍:	TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V
掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍:	TTL 1.2V/CMOS 2.5V
掃描高邏輯范圍:	TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V