H-9200A 晶體振蕩器高低溫測試系統(tǒng)主要用來對晶體振蕩器在不同溫度點(diǎn)下的各項(xiàng)性能參數(shù)如頻率(Fr)、電流(I)、上升時(shí)間(Tr)、下降時(shí)間(Tf),占空比(DC)等進(jìn)行測量。基于 Windows操作系統(tǒng)的控制軟件,通過以太網(wǎng)接口控制程控電源、頻率計(jì)、DMM、示波器等儀表,來實(shí)現(xiàn)自動控制測量過程。測量完成后,軟件可以根據(jù)設(shè)定的合格范圍來判斷產(chǎn)品是否合格,并可以繪制晶體諧振器的頻率/溫度擬合曲線。
石英晶體諧振器基本原理
石英晶體振蕩器簡稱晶振, 是將石英晶體和內(nèi)置的芯片電路組裝在一起構(gòu)成振蕩電路,石英晶體振蕩器屬于有源器件,需要施加 Vcc 供電電壓才能工作,根據(jù)負(fù)載類型不同,其波形輸出有方波、正弦波等。晶體振蕩器可以分普通振蕩器(Oscillator),壓控振蕩器(VCXO),溫補(bǔ)晶振(TCXO),恒溫晶振(OCXO)等,負(fù)載類型主要為 CMOS,TTL,HCMOS,PECL,LVDS 等等。典型的 CMOS 石英晶振振蕩電路見下圖:
采用一個(gè) CMOS 反相器來做放大器,R1 為反饋電阻,使反相器在振蕩初始時(shí)處于線性工作區(qū)。石英晶體與兩個(gè)電容構(gòu)成 PI 網(wǎng)絡(luò)形式的帶通濾波器,在諧振頻率上提供 180°移相所需的增益。
晶體的主要參數(shù)介紹如下
Fr:晶振在固定 Vcc 和 Vco 電壓下的輸出頻率;
I:晶體振蕩器的工作電流,單位一般為 mA;
Tr:輸出波形的上升時(shí)間,一般選取波形幅度的 10%到 90%之間上升沿的時(shí)間段; Tf: 輸出波形的下降時(shí)間,一般選取波形幅度的 90%到 10%之間下降沿的時(shí)間段; DC: 輸出波形的占空比;
VH:邏輯高電平
VL:邏輯低電平
F@V:在特性 Vcc 及 Vco 電壓下的晶振輸出頻率;
High Pul:VCXO 晶振在 Vco(壓控電壓)下的頻率; Low pull:VCXO 晶振在最小 Vco (壓控電壓) 下的頻率;
石英晶體振蕩器,因?yàn)槠鋬?nèi)部的晶體諧振器晶片的諧振頻率在溫度發(fā)生變化時(shí),其諧振頻率保持穩(wěn)定。石英晶體諧振器的溫度特性與晶片的切角有關(guān)系。對于 AT 切的石英晶體諧振器,其組成的晶體振蕩頻率隨溫度的變化△f 和溫度 T 頁是一個(gè) 3 次函數(shù)關(guān)系。 晶體振蕩器的頻率和溫度關(guān)系符合同樣的函數(shù)關(guān)系。
石英晶體諧振器測量原理
石英晶體振蕩器的測試需要 Vcc 直流電源給晶體振蕩器供電,同時(shí)還需要一路 Vco 電源接到晶體諧振器壓控(或使能)端子,對于某些晶體振蕩器,通過 Vco 通電或斷電來控制振蕩器的頻率輸出。而對于壓控振蕩器(VCXO),Vco 管腳電壓改變,VCXO 的輸出頻率也隨著改變。測量晶振時(shí),晶體振蕩器的輸出端必須接相應(yīng)的負(fù)載,波形參數(shù)的測量也必須在晶體振蕩器帶負(fù)載的狀態(tài)下進(jìn)行。晶體振蕩器典型的測試電路如下圖:
上圖的負(fù)載類型是 CMOS 15pF,晶體振蕩器的輸出端子接 15pF 負(fù)載,其信號輸出分成兩路,一路去頻率計(jì)數(shù)器測量頻率,另外一路連接到示波器測量波形參數(shù)。
典型的 CMOS 輸出波形及定義見下圖:
圖中的 Tr 即輸出波形的上升時(shí)間,Tf 是波形的下降時(shí)間,VOH 是高電平,VOL 是低電平,Period是波形的周期,On Time/Period 的比值是波形在 50%幅度時(shí)的占空比。
系統(tǒng)構(gòu)成及功能
H-9200B 晶體振蕩器器高低溫測試系統(tǒng)主要有精密高低溫箱、程控電源、頻率計(jì)、示波器、數(shù)字萬用表、專用測試頭、溫測盤及控制軟件功構(gòu)成。
精密高低溫箱提供全溫度范圍-55℃~125℃的溫度環(huán)境,待測產(chǎn)品擺放到溫測盤上,放入到精密溫箱內(nèi)部;兩個(gè)程控那個(gè)電源,一路給產(chǎn)品提供 Vcc 電壓,另外一個(gè)提供 Vco 電壓給待測晶振;數(shù)字萬用表用來測量晶體振蕩器的工作電流;頻率計(jì)用來測量晶振的輸出頻率;示波器用來測量 Tr、Tf 等波形參數(shù);控制軟件用來建立測試文檔,控制溫箱的升溫/降溫以及各個(gè)測量儀器進(jìn)行測量,并進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和繪制晶振的頻率/溫度擬合曲線。
技術(shù)指標(biāo)
● 頻率測量范圍:10KHz-650MHz;
● 頻率精度:+/-1ppm (典型值);
● 電流分辨率:+/-0.5mA
● 測量通道:雙通道;
● 晶振種類:可測量晶體振蕩器,VCXO,TCXO 等;
● 負(fù)載類型:CMOS,TTL,PECL,LVDS,HCSL,ECL 等;
● 測量參數(shù):Fr. I, Tr, Tf, DC, VH,VL, T, Linearity, F@V, Vpp 等等
● 測試能力:每次可以放置 4 個(gè)測試盤,最多可以測量 512 顆標(biāo)準(zhǔn) SMD 晶振
● 溫測盤:對于標(biāo)準(zhǔn)封裝DIP 全尺寸半尺寸晶振, 50 顆/盤;對于標(biāo)準(zhǔn) SMD 封裝的晶體,128 顆/盤;
● 溫測盤類型:可選 DIP50,7.0x.5.0, 5.0x3.2, 3.2x2.5,2.5x2.0,TXO500,QT88 等等
● 軟件控制:基于 Windows 操作系統(tǒng),升溫/降溫/測量全自動完成;
● 測量結(jié)果:測量結(jié)果可以打印輸出,并能自動繪制晶體的頻率/溫度擬合曲線;
● 溫度范圍:-55℃ ~ 125℃;
● 溫度穩(wěn)定度:+/-0.1℃;
● 溫度分辨率:+/-0.01℃;
● 制冷方式:雙級壓縮機(jī)制冷;
● 溫度傳感器:雙傳感器測量,一個(gè)測量工作溫度,一個(gè)用于過溫保護(hù);
● 監(jiān)控功能:溫箱能測量、監(jiān)控兩臺壓縮機(jī)的工作電流,并將電流值實(shí)時(shí)顯示在溫箱顯示屏上,具有過流自動保護(hù)功能;
● 保護(hù)功能:溫箱能實(shí)時(shí)測量監(jiān)控兩臺壓縮機(jī)的管路溫度,并將溫度值實(shí)時(shí)顯示在溫箱顯示屏上,具有過溫自動保護(hù)功能;