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SDC-600半導(dǎo)體晶圓接觸角測量儀優(yōu)點(diǎn)圖片

2024-09-09 04:16:2381

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

進(jìn)入商鋪在線詢價

圖片描述：

半導(dǎo)體晶圓接觸角測量儀Wafer水滴測試晶圓表面分析測量系統(tǒng)、晶圓表面張力分析系統(tǒng)適用于半導(dǎo)體晶圓（Wafer）工藝的質(zhì)量控制。提供晶圓（Wafers）表面的快速并準(zhǔn)確的接觸角/表面能分析，從而評估粘性，潔凈度及鍍膜

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