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上海沃盾精密設(shè)備科技有限公司
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Laser Probe點(diǎn)激光傳感器測(cè)頭
德國(guó)wisth公司系列復(fù)合式光學(xué)三坐標(biāo)檢測(cè)儀可選配各種點(diǎn)激光/線(xiàn)激光傳感器測(cè)頭。
主要特點(diǎn)：
◆ 激光測(cè)量傳感器可與光學(xué)圖象處理測(cè)量傳感器，接觸式測(cè)量傳感器配合使用
◆ 激光在光線(xiàn)中不損失測(cè)量范圍
◆ 光斑小，可測(cè)量微小的細(xì)節(jié) (在WLP 10x的情況下為3um)
◆ 垂直激光光路，應(yīng)用于小孔測(cè)量
◆ CNC光強(qiáng)度調(diào)節(jié)及智能軟件適用于多種表面測(cè)量
技術(shù)參數(shù)：
技術(shù)參數(shù)：
◆ 激光zui大測(cè)量速度 1米/秒 配用(Inspector FQ ）
◆ 激光采樣頻率：5000 點(diǎn)/秒
◆ 激光分辨率：0.1m，可選0.01m
◆ 變焦光學(xué)鏡頭配合激光測(cè)頭 WLP：
探測(cè)誤差MPE*. P1Z：2.5?m
掃描探測(cè)誤差MPE*. THP1Z：3.5m
◆ 5x固定光學(xué)鏡頭配合激光測(cè)頭 WLP：
探測(cè)誤差MPE*. P1Z：2.5m
掃描探測(cè)誤差MPE*. THP1Z：3.5m
◆ 10x固定光學(xué)鏡頭配合激光測(cè)頭 WLP：
探測(cè)誤差MPE*. P1Z：1.0m
掃描探測(cè)誤差MPE*. THP1Z：1.5m
◆ 20x固定光學(xué)鏡頭配合激光測(cè)頭 WLP：
探測(cè)誤差MPE*. P1Z：0.75m
掃描探測(cè)誤差MPE*. THP1Z：1.0m
◆ 測(cè)量原理：傅科棱鏡法
* 依據(jù)ISO 10360和VDI 2617
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