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更新時(shí)間：2023-06-26 11:39:27瀏覽次數(shù)：244次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 紡織服裝機(jī)械網(wǎng)熒光高光譜成像系統(tǒng)
IMA™高光譜顯微鏡平臺(tái)可提供同樣高的光譜和空間分辨率。將這個(gè)模塊化系統(tǒng)配置為快速掃描VIS，NIR和/或SWIR光譜，可同時(shí)繪制光致發(fā)光，電致發(fā)光，熒光，反射光和透射光的組合。每個(gè)IMA™都配備了高吞吐量的全局成像濾鏡；這使其比依賴掃描光譜的高光譜系統(tǒng)更快地測(cè)量百萬(wàn)像素超立方體。
執(zhí)行復(fù)雜的材料分析，例如太陽(yáng)能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制（例如：鈣鈦礦，GaAs，SiC，CIS，CIGS等）。
在復(fù)雜的環(huán)境（包括活細(xì)胞和組織）中研究IR標(biāo)記。以在第二生物窗口中發(fā)射的IR熒光團(tuán)的光譜異質(zhì)性為例。
檢索暗場(chǎng)圖像并獲得透明和未染色樣品（例如聚合物，晶體或活細(xì)胞）的對(duì)比度。
| 光譜范圍 | VIS-SWIR型號(hào) | |
|---|---|---|
| 可見光 | 短波 | |
| 光譜分辨率 | <2納米 | <4納米 |
| 相機(jī) | CCD，EMCCD，sCMOS | ZephIR 1.7 |
| 激發(fā)波長(zhǎng) | 405、447、532、561、660、730、785或808 nm | |
| 顯微鏡 | 直立或倒立；科學(xué)級(jí) | |
| 空間分辨率 | 亞微米 | |
| 樣本大小 | 10厘米x 10厘米 | |
| X，Y旅行范圍 | 76毫米x 52毫米 | |
| Z-階段分辨率 | 100納米 | |
| 照明 照明選項(xiàng) | 透射，透射，LED，HG，落射 熒光模塊，暗場(chǎng)模塊 | |
| 波長(zhǎng)精度 | 0.25nm | |
| 視頻模式 | 百萬(wàn)像素相機(jī)用于樣品可視化 | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 空間過濾，統(tǒng)計(jì)工具，頻譜提取，數(shù)據(jù)歸一化，頻譜校準(zhǔn)，疊加，中心位置圖等。 | |
| 超光譜數(shù)據(jù)格式 | HDF5，F(xiàn)ITS | |
| 單圖像數(shù)據(jù)格式 | HDF5，CSV，JPG，PNG，TIFF | |
| 軟件 | PHySpec™控制和分析（包括計(jì)算機(jī)） | |
| 尺寸圖 | ?150厘米x 85厘米82厘米 | |
| 重量 | ?80公斤 | |
SiC的缺陷表征 
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