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廣州中源儀器技術(shù)有限公司
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產(chǎn)品型號
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廠商性質(zhì)其他
所 在 地廣州市
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更新時間：2025-07-23 10:29:21瀏覽次數(shù)：9次
聯(lián)系我時，請告知來自 紡織服裝機械網(wǎng)產(chǎn)品型號：WinSPM L? 傳統(tǒng)的原子力顯微鏡? 采用激光檢測型探針? 多功能模式、研究級? 經(jīng)典傳承、品質(zhì)
產(chǎn)品簡介：
采用傳統(tǒng)激光檢測探針的原子力顯微鏡（AFM），經(jīng)典傳承、品質(zhì)。集成了多模式和多功能的、國際和研究級的掃描探針顯微鏡產(chǎn)品。
儀器特點
采用激光探測探針，支持接觸模式和輕敲模式的形貌成像。
具備力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等測量分析功能。
采用高精度嵌入式測控系統(tǒng)，主機隔音抗震設(shè)計，抗干擾能力強。
可擴展納米加工、掃描隧道顯微鏡、靜電力顯微鏡等掃描探針顯微鏡功能。
可選配不同掃描范圍的管型掃描器，或平面閉環(huán)型掃描器。
可通過選配模塊和擴展接口增強系統(tǒng)功能。
激光檢測示意圖
主要技術(shù)參數(shù)
一鍵式快速自動進樣，行程23mm，最小步距50nm。
手動調(diào)節(jié)樣品檢測位置，調(diào)節(jié)范圍±10.0mm。
樣品尺寸的直徑20mm，厚度20mm。
標配管型掃描器，掃描范圍約為20μm×20μm×5μm。
樣品逐行掃描成像，掃描成像速率0.1-30行/秒。
一次掃描多幅圖像，圖像分辨高達1024×1024物理象素。
內(nèi)置數(shù)?；旌辖Y(jié)構(gòu)的鎖相放大器，數(shù)字化PID反饋控制的響應時間為10μs。
嵌入式測控系統(tǒng)采用主頻為450MHz的雙核處理器（ARM + DSP），與上位機連接采用以太網(wǎng)TCP/IP通訊協(xié)議。
標準配置：
主控制器
主機底座及隔音罩
主機探頭及探針架（L型）
手動樣品調(diào)節(jié)臺（調(diào)節(jié)范圍±10.0mm）
管型掃描器（掃描范圍20μm）
計算機及專用測控軟件
儀器附件
L型探針架（上：正面；下：背面）
選配模塊：
納米加工模塊，包括：圖形化納米加工、機械刻蝕、矢量掃描等功能
掃描隧道顯微鏡（STM）模塊，包括：掃描隧道顯微鏡的硬件與軟件、STM探針架（WinSPM T-Probe）
輔助觀察光學顯微鏡系統(tǒng)：物鏡倍數(shù)：0.7X～4.5X；總放大倍數(shù)：42-266X連續(xù)可調(diào)（14"有效顯示面積）；工作距離：115mm
管型掃描器模塊：掃描范圍有8μm、20/30μm和100μm共3種規(guī)格
平面閉環(huán)掃描器：掃描范圍為30μm×30μm×9μm，閉環(huán)分辨率約1.5nm，垂直方向的諧振頻率約為40kHz
導電原子力顯微鏡（C-AFM）
靜電力顯微鏡（EFM）
磁力顯微鏡（MFM）
應用領(lǐng)域及實驗
實驗一：原子力顯微鏡的基本原理與應用，典型的應用領(lǐng)域為納米研究、教學教育。
實驗二：原子力顯微鏡形貌成像及分析，典型實驗內(nèi)容包括：軟磁盤或光盤等常規(guī)樣品形貌成像及分析、光柵樣品的形貌成像及關(guān)鍵尺寸測量、納米臺階的測量分析。
實驗三：譜曲線測量與納米力學實驗，典型實驗內(nèi)容包括：力-距離曲線的測量分析、液體膜厚度的測量與分析。
實驗四：掃描隧道顯微鏡（STM），包括形貌成像和隧道譜。（需增配STM模塊）
實驗五：納米加工實驗，如圖形化納米刻蝕實驗。（需增配納米加工模塊）
實驗六：其它基于特殊針尖或?qū)嶒灧椒ǖ脑恿︼@微鏡的應用領(lǐng)域，包括：導電原子力顯微鏡（C-AFM）、靜電力顯微鏡（EFM）、磁力顯微鏡（MFM）等。（需增配或定制相應的功能模塊）。
儀器整體照片 |
磁盤形貌圖(3×3μm) |
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