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相位差測量裝置 RETS-100nx New

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大塚電子（蘇州）有限公司

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產品簡介

產品信息特點采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備測量項目...

詳細介紹

產品信息

特　點

● 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
● 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備

測量項目

● 封入cell gap
● twist角
● rubbing角
● pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
● 空cell gap
● 相位差（復折射相位差）的波長分散
● 光學軸
● 橢圓率/方位角
● 三次元折射率/Rth/β
● 分光光譜/色度

測量對象

● 液晶cell
　-　透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）
　-　反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光學材料
　-　其他（相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料）

仕　樣

型號	RETS series
樣品尺寸	20mm×20mm ～ *
cell gap測量范圍	0.1μm ～數(shù)10μm
cell gap重復性	±0.005μm
檢出器	多通道分光光度計
測量波長范圍	400nm ～ 800nm
光學系透過用偏光子unit	偏光光學系消光比 10-5內置Gran-tomson prism（方解石）自動旋轉（角度精度0.1°）、自動裝卸機構
測量口徑	φ2, φ5, φ10 (mm)
光軸傾斜機構	-20 ～ 45°、-45 ～ 45°等