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高速延遲測量裝置 RE-200

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品信息特點可測從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高設(shè)置的測量項目少，測量簡單...

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品信息

特點

• 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
• 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當(dāng)于快速的0.1秒以下來處理）
• 無驅(qū)動部，重復(fù)再現(xiàn)性高
• 設(shè)置的測量項目少，測量簡單
• 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
• Rth測量、角測量
（需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
• 通過與拉伸試驗機(jī)組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）

測量項目

• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主軸方位角（θ[deg.]）
• 橢圓率（ε）?方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

• 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
• 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

• 什么是RE-200
• RE-200是光子結(jié)晶素子（偏光素子）、CCD相機(jī)構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學(xué)系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機(jī)1次快門獲取偏光強(qiáng)度模式，沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機(jī)構(gòu)，系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕　樣

型號	RE series
樣品尺寸	最小10×10mm ～100×100mm
測量波長	550nm （標(biāo)準(zhǔn)仕樣）※1
相位差測量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復(fù)精度	0.05°（at 3σ） ※2
檢出器	偏光計測模塊
測量光斑直徑	2.2mm×2.2mm
光源	100W 鹵素?zé)艋?LED光源
本體?重量	300(W) × 560(H) ×430（D) mm 、約20kg